雷達物位計在今天的精密測量領域中的應用-福州法拉第機電設備有限公司

雷達物位計在今天的精密測量領域中的應用

作者：雷達物位計瀏覽：發表時間：2019-09-27 09:19:15 來源：雷達物位計

　　雷達物位計采用微波脈衝的測量方法，並可在工業頻率波段範圍內正常，波束能量低，可安裝於各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用於粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現場校調等優點，不論是對工業需要，還是對顧客經濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。

　　雷達物位計發射功率很低的極短的微波通過天線系統發射並接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，***的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由於信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。

　　導波雷達物位計的微波脈衝沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質後，微波脈衝被反射回來，並被電子部件接收，並分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算後將它轉換成物位信號給出。由於測量原理簡單，可以不帶料調整，從而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應現場的應用。對於蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質特性變化的影響，被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。粘附:沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。容器內安裝物如果采用同軸套管式的測量完全不受容器內安裝物的影響，不需要特殊調試。

　　現今物位測量領域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用於50/100米以內的充滿粉塵和擾動的加料狀態下的料倉。相關技術的儀表例如電容或導波雷達TDR在放料時物位下降時會受到很強的張力負載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經常有埋錘的問題，需要經常維修，大多數其他機械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統的能力。高頻的調頻雷達技術尤其適合這種大型固體料倉的物位測量。

　　現今的高頻雷達一般為工作在K波段(24~26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，並具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調頻連續波微波物位計發射和接受信號是同時的，相同時間內發射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現象。因此固體測量中高頻的調頻雷達能提供準確、可靠的測量，並在例如化工行業中的PP粉末、PE粉末等介質中也有良好應用。但由於技術限製，現今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。

　　也有使用5.8GHz~10GHz的低頻雷達測量固體，但由於其較低的頻率、較長的波長其發射波不容易被漫反射，在高粉塵工況下會導緻很多的二次或多次回波，幹擾和噪聲很大，因此固體粉料測量中逐漸被淘汰。

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